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专家交流电子元件“抗辐射”

发布时间:2015/10/22    访问人数:910次

  本报19日讯(记者衣春翔)19日,哈尔滨工业大学主办电子元器件辐射效应国际会议,针对电子元件如何“抗辐射”开展交流讨论。

  会议邀请美国、德国、欧空局、俄罗斯、意大利、乌克兰及国内著名空间辐射效应专家作特邀报告,并针对电子材料、元器件、电路、传感器及系统等的辐射效应开展广泛的学术讨论。专家还就辐射环境下电子材料、器件及系统的辐射损伤效应和机理、加固工艺、加固设计及评价技术展开交流。